SRC9000系列In Circuit Tester(ICT)技術(shù)創(chuàng)新說明
- 分類:技術(shù)創(chuàng)新資訊
- 作者:
- 來源:
- 發(fā)布時(shí)間:2022-06-07
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【概要描述】測(cè)試核心單核、雙核、四核自由切換,由軟件控制,無需更改硬件,兼顧多點(diǎn)數(shù)的大電路板與多拼板的小電路板,實(shí)現(xiàn)高效率檢測(cè)。
SRC9000系列In Circuit Tester(ICT)技術(shù)創(chuàng)新說明
【概要描述】測(cè)試核心單核、雙核、四核自由切換,由軟件控制,無需更改硬件,兼顧多點(diǎn)數(shù)的大電路板與多拼板的小電路板,實(shí)現(xiàn)高效率檢測(cè)。
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核心技術(shù)創(chuàng)新----測(cè)試速度更快、測(cè)試精度穩(wěn)定性更高、功能擴(kuò)展性更靈活
1.測(cè)試核心單核、雙核、四核自由切換,由軟件控制,無需更改硬件,兼顧多點(diǎn)數(shù)的大電路板與多拼板的小電路板,實(shí)現(xiàn)高效率檢測(cè)。
2.四針八線檢測(cè)技術(shù)有效消除探針接觸電阻影響,穩(wěn)定檢測(cè)小至0.01歐的電阻值,可以分辨到1毫歐。
3.應(yīng)用雙通道高速同步采集技術(shù),同時(shí)提高測(cè)試速度及精度。
4.程控電源配置更靈活,可滿足不同被測(cè)產(chǎn)品對(duì)程控電源的需求。
操作使用創(chuàng)新----編程操作更方便、方法組合更柔性、數(shù)據(jù)管控更安全
1.可進(jìn)行二次開發(fā)的DIY編程模式,方便用戶自主開發(fā)特殊器件的組合檢測(cè)方法。
2.放電點(diǎn)可編輯,測(cè)試前、后放電、單測(cè)試步放電、全板放電方法相結(jié)合,有效保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)與被測(cè)電路板。
3.信號(hào)源激勵(lì)有自動(dòng)設(shè)置及人工調(diào)整。人工可以調(diào)整信號(hào)源激勵(lì)信號(hào),滿足特殊要求。
4.單步自動(dòng)循環(huán)測(cè)試功能,方便工程師調(diào)試被測(cè)板。
5.采用表格式編程,方便測(cè)試步的創(chuàng)建,以及調(diào)整測(cè)試步的順序。
6.靈活的拼板測(cè)試,在一個(gè)夾具上可同時(shí)測(cè)試相同和不同的拼板,拼板子程序可復(fù)制實(shí)現(xiàn)快速編程。
7.針號(hào)設(shè)置可自由定義,便于針床制作。
8.四級(jí)權(quán)限管理,數(shù)據(jù)分級(jí)密碼保護(hù),測(cè)試程序數(shù)據(jù)管理更安全可靠。
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)創(chuàng)新----結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)更合理、夾具更換更方便、使用維護(hù)成本更低
1.獨(dú)創(chuàng)的通道板布局,節(jié)約了界面尺寸,使針床制作更經(jīng)濟(jì)合理。
2.獨(dú)創(chuàng)的通道板拔插方式,無需從設(shè)備左右兩側(cè)進(jìn)行維護(hù),減少了維護(hù)難度和機(jī)臺(tái)占地面積。
3.獨(dú)創(chuàng)的設(shè)備與夾具對(duì)接方式,可實(shí)現(xiàn)夾具快速更換,大大降低換線時(shí)間。
4.增加夾具安裝導(dǎo)向,搬運(yùn)夾具更方便、省力,為重型夾具實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化搬運(yùn)、安裝奠定了基礎(chǔ)。
5.獨(dú)創(chuàng)的定制型探針直接對(duì)接夾具,線阻干擾更小,設(shè)備性能更穩(wěn)定。
6.獨(dú)創(chuàng)的真空吸附裝置,夾具、單板吸合速度更快,同時(shí)避免了真空氣路壓力對(duì)測(cè)試穩(wěn)定性的干擾。
7.創(chuàng)新的界面針保護(hù)裝置,避免界面針污損,基本實(shí)現(xiàn)界面針終身免維護(hù)。
8.定制化的專用界面針,減少探針接觸面造成的鍍層破壞、臟污使導(dǎo)通超差,界面針做到終生免維護(hù)。
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